¡ß Page Select
A B C D E F G H I JK L M N O P Q R S T U V WXYZ
 
ABIOS Advanced Basic I/O System)
   PCÀÇ ½Ç¸ðµå BIOS´Â À¯»çÇÑ ·çƾµéÀÇ ÁýÇÕÀ̰í,ABIOS´Â º¸È£¸ðµå·ÎÀÛµ¿µÇµµ·Ï ¼³°èµÈ °ÍÀÌ´Ù.
Abrasive   ¼ºÇü¿Ï·áµÈ PKG³ª ¸®µåÇÁ·¹ÀÓ¿¡ ÀÜÁ¸ÇÏ´Â ¼öÁö ÇǸ·À» Á¦°ÅÇϱâ À§ÇØ »ç¿ëµÈ ¿¬¸¶Á¦.
Absorption Constant(Èí¼ö »ó¼ö)  ¸ÅÁúÀÌ ºûÀ» Èí¼öÇÏ´Â Á¤µµ¸¦ ³ªÅ¸³½ °íÀ¯°ª.
Absorption Dichroism (Èí¼ö ÀÌ»ö¼º)
    Ã༺(õîàõ)¾×Á¤¿¡ À־ ±¤ÀÇ Æí±¤ ¹æÇâ¿¡ÀÇÇØ ±¤ÀÇ Èí¼ö Á¤µµ°¡´Ù¸¥ Çö»óÀ¸·Î Á÷¼± Æí±¤ÀÇ Áøµ¿¹æÇâÀÇ Â÷ÀÌ¿¡
    ÀÇÇØ Èí¼ö°è¼ö°¡ ´Ù¸¥ Á÷¼± ÀÌ»ö¼º ¶Ç´Â ¼±±¤¼º(àÁÎÃàõ)À» ³ªÅ¸³»´Â ¿ë¾×µî¿¡ À־ ÁÂ¿ì ¿øÆí±¤ÀÇ Èí¼ö°è¼ö°¡
    ´Ù¸¥ ¿øÆí±¤ÀÌ»ö¼º µîÀÇ Á¾·ù°¡ ÀÖ´Ù.

Accel Mode  À̿ ÁÖÀԽà °¡¼Ó¿¡³ÊÁö¸¦ °¡ÇØÁØ »óÅ¿¡¼­ ÁÖÀÔÇÏ´Â ÇüÅÂ(¿¡³ÊÁö ¹üÀ§ 32-200KeV).
AC Characteristic 
   Device°¡ µ¿À۽à °®°íÀִ Ư¼ºÁß ÀÔÃâ·Â ÆÄÇüÀÇ Timing°ú °ü·ÃÇÑ ¿©·¯ °¡Áö Ư¼ºµéÀ» ¸»ÇÔ
Access
   ¸Þ¸ð¸® Deive¿¡ Data¸¦ ÀúÀåÇϰųª ÀúÀåµÈ Data¸¦ Àо±âÀ§ÇÏ¿© DeviceÀÇ ¿ÜºÎ¿¡¼­ ¹Ì¸®¾à¼ÓµÈ ¹æ½ÄÀ¸·Î
     SignalÀ» °¡ÇÏ¿© ¸Þ¸ð¸®ÀÇ Æ¯Á¤ ¹øÁö¸¦ ã¾Æ°¡´Â ÇàÀ§.
Acceptable Quality Level ÇÕ°ÝǰÁú¼öÁØ.
    Sampling¿¡¼­,¸¸Á·ÇÒ¸¸ÇÑ °øÁ¤ Æò±ÕÀ¸·Î »ý°¢ÇÒ¼ö ÀÖ´Â LotȤÀº Batch³»ÀÇ ÃÖ´ë º¯µ¿¼ö(variant unit)¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.
    º¯µ¿¼ö¶ó´Â ¸»Àº ÀÌ»óÁ¤µµ ¶Ç´Â °áÇÔ(ºÒ·®)Á¤µµ¶ó´Â º¸´Ù ´õ ±¹ÇÑµÈ ÀǹÌÀÇ ´Ü¾î·Î ´ëüÇÒ ¼öµµ ÀÖ´Ù.
Acceptance Number(Attributes)
   °è¼öÄ¡ °Ë»ç Lot ¶Ç´Â BatchÀÇ ÇÕ°ÝÀ» À§Çؼ­ ¿ä±¸µÇ´Â Sampling³»ÀÇ Ãִ뺯µ¿ ¼ö¸¦ ÀǹÌÇÑ´Ù.
Acceptance Sampling
   Á¦Ç°È¤Àº ÀçÈ­ÀÇ ÇÕ.ºÎÆÇÁ¤À» À§ÇÑ Sampling°Ë»ç Áï,Sampling°Ë»ç¿¡ ÀǰÅÇÏ¿© ÇÕ.ºÎÆÇÁ¤À»
    ÇÏ´Â ÀýÂ÷¿¡ °üÇÑ ¹æ¹ýÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
Acceptance Tests(Àμö½ÃÇè) °ø±ÞÀÚ°¡ ±¸¸ÅÀÚ°£¿¡ Á¦Ç°À» ÀμöÇÒ °ÍÀΰ¡¸¦ µ¿ÀÇÇϰųª °áÁ¤Çϴµ¥ ÇÊ¿äÇÑ Å×½ºÆ®
Acceptor   3°¡ÀÇ ºÒ¼ø¹°À» ½Ç¸®ÄÜ¿¡ ÁÖÀÔÇÏ¸é °øÀ¯ °áÇÕ¿¡ ÀÇÇØ Ȧ(Hole: Á¤°ø)À» ¸¸µå´Âµ¥ À̶§ 3°¡ÀÇ ºÐ¼ø¹°À»
    Acceptor¶óÇÑ´Ù.
Acceptor Level(Acceptor ÁØÀ§) ¹ÝµµÃ¼¼Ó¿¡ ºÒ¼ø¹°·Î¼­ È¥ÀÔÇÑ ¿øÀÚ¿¡ ÀÇÇØ¼­ È£¿ï(Hole)ÀÌ »ý°Ü ¹ÝµµÃ¼°¡ PÇü
    À¸·Î µÇ´Â ºÒ¼ø¹° ¿øÀÚ¸¦ ¾ï¼ÁÅÍ ¶ó°í ÇϸçÀÌ Å¸¦ ¿¡³ÊÁö´ëÀÇ ±×¸²À¸·Î ³ªÅ¸³ÂÀ»¶§ ¾ï¼ÁÅÍ¿¡ ÀÇÇØ¼­ ±ÝÁö´ë¼Ó¿¡
    »ý±ä ¿¡³ÊÁö LevelÀ» Acceptor LevelÀ̶ó°í ÇÑ´Ù.
Access Time(È£Ãâ½Ã°£)
    ±â¾ïÀåÄ¡¿¡ À־ Áö·É(ÆÇµ¶, ±â·Ï)°ú ¾îµå·¹½ºÀÇ Á¦¾î½ÅÈ£°¡ ÁÖ¾îÁøÈÄ ½ÇÁ¦·Î ±× µ¿ÀÛÀÌ ½ÃÀÛ µÇ±â±îÁöÀÇ ½Ã°£
ACI(After Cleaning Inspection)
    ½Ä°¢°øÁ¤Áß °Ç½Ä, ½À½Ä ¹× °¨±¤¾× Á¦°ÅÈÄ Çö¹Ì°æ ¹× ÃøÁ¤ÀåÄ¡ µîÀ»ÀÌ¿ëÇØ ½Ä°¢ÀÇ Á¤È®¼º,À̹°ÁúÀÇ ÀÜÁ¸
CD(Critical Dimension : ÀÓ°èÄ¡¼ö) µîÀ» °Ë»çÇÏ´Â ÀÛ¾÷.
Active Matrix Drive(´Éµ¿ ¸ÅÆ®¸¯½º ±¸µ¿)
    ÁÖ»ç Àü±Ø°ú ½ÅÈ£ Àü±ØÀÇ ¸ÅÆ®¸®½º ±³Á¡ºÎ È­¼Ò¸¶´Ù ½ºÀ§Äª ¼ÒÀÚ¿Í Çʿ信 µû¶ó ÃàÀüÁö¸¦ ÃàôÇÏ¿© contrast³ª
    response µîÀÇ ¼ÒÀÚ ¼º´ÉÀ» Çâ»ó½ÃŰ´Â ±¸µ¿¹æ½ÄÀ¸·Î ½ºÀ§Äª ¸ÅÆ®¸®½º ±¸µ¿À̶ó°íµµ ÇÑ´Ù.¹æ½ÄÀº °¢ ¼öÀ§Äª ¼Ò
    ÀÚ¿¡ ¿¬°áµÈ È­¼ÒÀü±ØÀ» ·Î µ¶¸³½ÃŲ °ÍÀ¸·Î ÀÜ»ó Çö»óÀ» ¹æÁöÇÏ°í ´ÙÀ½ ÇÁ·¹ÀÓ±îÁö ½ÅÈ£ ÀüÇϰ¡ ÃàÀüÁö¿¡ ÀÇÇÏ
    ¿©À¯ÁöµÈ´Ù.
Accumulation MOSÀÇ Gate¿¡ °¡ÇØÁö´Â Bias¿¡ µû¶ó¼­ silicon surface Gate ¾Æ·¡¿¡ Majority Carrier
    (Áï,Substrate¿Í °°ÀºCarrier)¿Í Density°¡ Áõ°¡ Çϴ°æ¿ì°¡ Àִµ¥ À̸¦ ÀÏÄÃÀ½.
Accumulator   ¼öÄ¡¿¬»ê¿¡ À־ Data³ª ¿¬»ê°á°ú¸¦ ÀϽÃÀûÀ¸·Î ÀúÀå.
Accuracy   Á¤È®µµ·ÃøÁ¤°ªÀÌ ¾ó¸¶¸¸Å­ Âü°ª¿¡ °¡±î¿î°¡¸¦ ³ªÅ¸³»´Â ôµµ.
Active Element(´Éµ¿¼ÒÀÚ)  ºñ¼±Çü ºÎºÐÀ» Àû±ØÀûÀ¸·Î ÀÌ¿ëÇÏ´Â ¼ÒÀÚ. Áø°ø°ü°ú Æ®·£Áö½ºÅͰ¡ ´ëÇ¥ÀûÀÌ´Ù.
ADART(Automatic Distribution Analysis in Real Time)ÀÚµ¿ºÐ¼® Program,ÆÄ¶ó¸ÞŸ °Ë»ç°á°úÀÇ ºÐÆ÷¸¦ ³ªÅ¸³»´Â °Í.
A/D Converter(Analog to Digital Converter)
    ¿¬¼Ó°è·®ÀûÀ¸·Î º¯È­ÇÏ´Â ½ÅÈ£¸¦ °è¼öÇü ½ÅÈ£ÀÎ "1"°ú "0"À¸·Î ¹Ù²Ù´Â ÀåÄ¡, ÈçÈ÷ ADC¶ó°íµµ ÇÑ´Ù.
Additive Process(¾ÖµðƼºêÍïÛö : ݾó·ÍïÛö)
    µ¿¹ÚÀ̳ª µ¿¹ÚÀÌ¿ÜÀÇ ºÎºÐÀÇ Ç¥¸é¿¡ ¼±ÅÃÀûÀ¸·Î Àüµµ¼º ¹°ÁúÀ» ºÎÂø½ÃÅ´À¸·Î¼­ ȸ·Î¸¦ Çü¼º½ÃŰ´Â ÍïÛö.
Address Pre-Decoder Row/Column Address De-codingÀÇ Æí¸®¸¦ À§ÇÏ¿© Address Buffer·ÎºÎÅÍÀÇInternal
    Address AN/AN¸¦ ¹Þ¾Æµé¿© DecodingÀ» Çϴ ȸ·ÎÀÌ´Ù.
Addressing Technique(¾îµå·¹½º ±â¼ú) ¾×Á¤Ç¥½Ã ¼ÒÀÚ¿¡ ¿øÇϴ ǥ½Ã¸¦ ³ªÅ¸³»±â À§ÇÏ¿© Àü±ØÇü¼º°ú Àü±ØÀÌ
    Çü¼ºµÈ ¾×Á¤Ç¥½Ã¼ÒÀÚ¸¦ ±¸µ¿½ÃŰ´Â ±â¼ú·Î LCD-Addressing ¹æ¹ý À̶ó°íµµÇÑ´Ù.
Adhesion   Á¢Âø·Â ƯÈ÷ WF¿¡ µµÆ÷µÈ °¨±¤¾×°ú WF±âÆÇ°£ÀÇ Á¢Âø·Â(°¢ ¸·Áú°£ÀÇ Á¢Âø·Â).
ADI(After Development Inspection)»çÁø °øÁ¤Áß Çö»óÀÌ ³¡³­ÈÄÀÇ Çü¼ºµÈ °¨±¤¾×, PatternÀÇ Á¤È®¼º, CDµîÀ» °Ë»ç
Agitation(±³¹Ý)
    ½À½Ä ½Ä°¢½Ã ½Ä°¢À²À» ³ôÀ̰ųª ½Ä°¢ ±ÕÀϵµ¸¦ ÁÁ°Ô ÇϱâÀ§ÇØ WF¸¦ ½Ä°¢¾×¿¡ ³ÖÀº »óÅ¿¡¼­ Èçµé¾î ÁÖ´Â °Í.
AGV(Automatic Guided Vehichle  (ÀÚµ¿ ¹Ý¼Û ½Ã½ºÅÛ) intra-bay³»¿¡¼­ cassette¸¦ ¹Ý¼ÛÇÏ´Â 6Ãà À̵¿ ·Îº¸Æ®
    ÀÌ´Ù. LCD °øÁ¤¿¡¼­ ´Ù·®ÀÇ ±âÆÇ À¯¸®¸¦ Á¦Á¶½Ã lotÀÇ Áß·® ¹× °áÁ¡ ¹ß»ýÀ» °í·ÁÇÏ¿© °øÁ¤ ´Ü°èº°·Î ±âÆÇ À¯¸®¸¦
    À̵¿½Ãų ¶§ ÀÚµ¿À¸·Î ¿î¼Û ½ÃÄÑÁÖ´Â ½Ã½ºÅÛ.
AH(Absolute Humidity)   °ø±âÁßÀÇ Àý´ë½Àµµ¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.
AHU(Air Handling Unit ÍöðàѦ)
    °ø±â¸¦ ÀÏÁ¤¿Âµµ, ½Àµµ·Î Á¶ÀýÇϰí, °ø±âÁß Particle¸¦ Á¦°ÅÇÏ¿© ½Ç³»¿¡ ±× Á¤È­µÈ °ø±â¸¦ °ø±ÞÇÏ´Â ±â°è
AI (Artifical Intelligence) ÀΰøÁö´É
Air Gun  ¾ÐÃà°ø±â¸¦ ÀÌ¿ë, À̹°Áú ¶Ç´Â Â±â µîÀ» ºÒ¾î³»´Â ±â±¸.
Air Shower  FAB Line ÃâÀԽà ¹æÁøº¹, ¹æÁøÈ­¿¡ ºÎÂøµÈ ¸ÕÁö³ª À̹°ÁúÀ» Á¦°ÅÇϱâ À§ÇÑ ÀåÄ¡·Î¼­ ¹ÐÆóµÈ Box¿¡
     ±ú²ýÇϰíÇÑ °ø±â¸¦ ºÒ¾î¼­ ¸ÕÁö¸¦ Á¦°ÅÇÔ.
Aignment  »çÁø°øÁ¤Áß Àü ´Ü°è¿¡¼­ WF¿¡ Çü¼ºµÈ ȸ·Î¿¡ »õ·Î Çü¼ºÇÒ MaskÀÇ È¸·Î¸¦Á¤¸³½ÃŰ´Â ÀÛ¾÷.ÀÌ·¯ÇÑ ¾÷À»
     ÇϱâÀ§ÇÑ Àåºñ¸¦ Aligner(Á¤·Ä³ë±¤±â) ¶ó°í ÇÑ´Ù.
Alignment(Á¤·Ä) ÀÌ¹Ì patternÀÌ Çü¼ºµÇ¾î ÀÖ´Â waferÇ¥¸éÀ§¿¡ ¶Ç´Ù½Ã ´Ù¸¥ patternÀ»¸ÂÃߴ°Í.LCD Á¦Á¶°øÁ¤¿¡¼­
     ¾Õ À¯¸®±âÆÇ°ú µÞ À¯¸® ±âÆÇÀÇ ÆÐÅÏÀ»Á¤È®È÷ ¸ÂÃß´Â ÀÛ¾÷
Alignment Mark  Áߺ¹µÇ´Â Align °øÁ¤¿¡¼­ Á¤È®ÇÑ AlignÀ» À§ÇÏ¿© Ç¥½ÃµÈ ±âÁØÁ¡À» ¸»ÇÑ´Ù.
Alloy  Si¿Í AlÀÇ Á¢ÃËÀ» ÁÁ°Ô Çϱâ À§ÇÏ¿© ÇձݽÃŰ´Â °ÍÀ» ¸»ÇϸçÈ®»ê·Î¸¦ ÀÌ¿ëÇÔ.
ALPG(Algorithmic Pattern Generator)
    ¸Þ¸ð¸® Device ½ÃÇè¿¡ »ç¿ëµÇ´Â DataÀÇ Àбâ, ¾²±â¸¦ ½ÃÇèÇϱâ À§ÇÑ instructionÀ» CodingÇÏ´Â ÀåÄ¡.
Alpha-particle ¹æ»ç´É ¹°ÁúÀÇ ºØ±«½Ã ¹æÃâµÇ´Â ÀÌÁßÀ¸·Î ÀÌ¿ÂÈ­µÈ He ¿øÀÚÇÙÀ¸·Î¼­ ÀÚü¿¡ ÀÖ´Â U ¹× Th ¿ø¼Ò
    ·ÎºÎÅÍ trace contaminationµÇ¾î IC¿¡ Á¸ÀçÇÒ ¼ö Àִµ¥,silicon°ú Àü±âÀûÀ¸·Î »óÈ£ÀÛ¿ëÇÏ¿© ¿¡³ÊÁö¸¦ ÀÒÀ¸¸é¼­
    Áö³ª´Â °æ·Î¸¦ µû¶ó hole-electron pairs¸¦ »ý¼ºÇϸ鼭 Soft error¸¦ ¹ß»ý½ÃŲ´Ù.
Al-Target  Wafer Ç¥¸é¿¡ AlÀ» ÁõÂøÇϱâ À§ÇÑ Al µ¢¾î¸®.
Alternative Hypothesis(H1)  ´ë¸³°¡¼³ ±Í¹«°¡¼³À̺ÎÁ¤µÇ¸é ´ë¸³°¡¼³ÀÌ ¹Þ¾Æ µé¿©Áø´Ù.
   ´ë¸³°¡¼³À» ¼±ÅÃÇÒ ¶§ ÇÑÂÊ °ËÁ¤À» ¼±ÅÃÇÒ °ÍÀÎÁö ¾çÂʰËÁ¤À» ¼±ÅÃÇÒ °ÍÀΰ¡¸¦ °áÁ¤ÇØ¾ß ÇÑ´Ù.
ALU(Arithmetic Logic Unit)  2Áø ¿¬»êÀ» ½ÇÇàÇϱâ À§ÇÑ ³í¸®È¸·Î·Î ±¸¼º.
AM ¹æ¼Û (ÁøÆøº¯Á¶¹æ¼Û)  ¹æ¼ÛÁ֯ļöÀÇ ÆøÀ» À½¼º ÀüÆÄ·Î º¯Á¶½ÃÄÑ ¹æ¼ÛÇÏ´Â °ÍÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
Ambient  È®»ê ¶Ç´Â ħÀû °øÁ¤À» ÁøÇàÇÒ ¶§ ÁÖÀ§ÀÇ Carrier Gas Á¾·ù¸¦ ¸»ÇÔ(N2, O2, H2O µî).
AMLCD(Active Matrix Liquid Crystal Display)
   È­¸éÀ» ¼ö¸¸¿¡¼­ ¼ö½Ê¸¸ °³·Î ºÐÇÒÇÏ¿© °¢ È­¼Ò¿¡ ±¸µ¿¼ÒÀÚ¸¦ Á¦ÀÛ
     ÇÏ°í ±×ÀÇ ½ºÀ§Äª Ư¼ºÀ» ÀÌ¿ëÇØ È­¼ÒÀÇ µ¿ÀÛÀ» Á¦¾îÇÏ´Â ¹æ½ÄÀ» ¸»ÇÔ.
Amorphous
   ¾î¶² °íü°¡ ¹Ýº¹Àû ¿øÀڹ迭 »óÅÂÀÎ °áÁ¤À» ÀÌ·çÁö ¾Ê°íÀÖ´Â »óÅ Áï ºñÁ¤Áú »óŸ¦ ¸»Çϸç,Silicon
    ÀÇ °æ¿ì Á¦ÇÑµÈ »ý¼º Á¶°ÇÀ» ¸¸µé¾î ÁÖ¸é ºñÁ¤Áú »óŰ¡ µÉ ¼ö ÀÖ´Ù.
Amplification(¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿©)
   ¹Ì¾àÇÑ ½ÅÈ£¸¦ ¿øÇÏ´Â ¼öÁØÀÇ ½ÅÈ£·Î ÁõÆø½ÃŰ´Â Àü±âÀûÀÎ ÀÛ¿ëÀ» ¸»ÇÔ.
Analog  ¿¬¼ÓÀûÀÎ ¼ýÀÚ³ª °ªÀ» ³ªÅ¸³»´Â °Í.
Analog IC  µðÁöÅ» IC¿¡ ¹Ý´ëµÇ´Â ¸»·Î¼­ ¾Æ³¯·Î±× ½ÅÈ£¸¦ Ãë±ÞÇÏ´Â ÁýÀûȸ·Î¸¦ ¸»ÇÑ´Ù.
Analog Memory  ¾Æ³¯·Î±×·®À» ±â¾ïÇÏ´Â ¸Þ¸ð¸®.
Analysis of Variance (ANOVA) ºÐ»êºÐ¼® ÃßÁ¤ÇÑ ºÐ»ê ¼ººÐÀ̳ª ¸ðÇüÀÇ º¯¼ö¿¡ ´ëÇÑ °¡¼³À» Áõ¸íÇÒ ¸ñÀûÀ¸·Î
    ÃѺ¯µ¿·®À» Ưº°ÇÑ º¯µ¿¿ä Àΰú °ü·ÃµÈ ÀǹÌÀÖ´Â ¼ººÐÀ¸·Î  ºÐÇØÇÏ´Â ±â¹ýÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
Analyzer  ÀüÀÚ¼®À» ÀÌ¿ëÇØ¼­ Wafer ³»¿¡ ÁÖÀÔ½Ã۰íÀÚ ÇÏ´Â ÀÌ¿ÂÀ» ºÐ¼®ÇÏ´Â Àåºñ.
AND  IC³»ÀÇ È¸·Î¸ÁÁß ³í¸®Àû ȸ·Î·Î¼­ ¸ðµç ÀԷ´ÜÀÚ(º¸Åë 2°³)¿¡ ÀÔ·ÂÀÌ µÇ¾î¾ß¸¸ Ãâ·ÂÀÌ ³ª¿À´Â ³í¸®È¸·Î.
Anelva  ±Ý¼Ó(Al, Cu Ti µî)À» ÁõÂø, »êÈ­¸· µîÀ» ½Ä°¢ÇÏ´Â Àåºñ¸¦ Á¦Á¶ÇÏ´Â ÀϺ»ÀÇ ¹ÝµµÃ¼ Àåºñ¾÷ü.
Angstrom(¡Ê)  ÆÄÀåÀ» Àç´Â ´ÜÀ§·Î 1¡Ê=1¡¿10-8§¯ÀÇ ±æÀÌ. H+ = 0.0592¡¿10-8¡Ê
Anicon  LTO(Low Tempercture oxide) deposition Àåºñ À̸§.
Anisotropic Etching 
    À̹漺 ½Ä°¢·½Ä°¢¹ÝÀÀÀÌ ÇÑÂʹæÇâ(¼öÁ÷)À¸·Î¸¸ ÁøÇàµÇ´Â ½Ä°¢ÇüÅ¡ÁIsotropic Etching (µî¹æ¼º ½Ä°¢)
Annealing
   ¿­Ã³¸®¸¦ ÀǹÌÇϸç, ÁÖ·Î Si°ú ¹ÝÀÀÄ¡ ¾ÊÀº N2³ª Ar gas ºÐÀ§±âÇÏ¿¡¼­ ÀÌ·ç¾îÁö¸ç OxideÀÇ  quality³ª
    Bulk siliconÀÇ defect °¨¼Ò ¹× À̿ ÁÖÀÔÈÄ damage °°Àº °ÍÀ» cureÇϴµ¥ ÀÌ¿ëµÊ.
Annular Ring(µÕ±Ù°í¸®)  ȦÁÖº¯À» Àüµµ¼º¹°ÁúÀÌ ¿ÏÀüÇÏ°Ô µÑ·¯½×°í ÀÖ´Â Ý»ÝÂ.
Anode  À½ÀÌ¿ÂÀÌ ²ø·Á¿À´Â Àü±Ø, Áï ¾ç±Ø.
ANSI(American National Standards Institute)
   ¹Ì±¹ °ø¾÷Ç¥ÁØ ÇùȸǥÁر԰ÝÀ» Á÷Á¢ Á¦Á¤ÇÏÁö ¾ÊÀ¸³ª °øÀÎµÈ ´ÜüÀÇ
    Ç¥ÁØ ±Ô°ÝÀ» ½É»ç,½ÂÀÎÇÏ¿© ±¹°¡ ±Ô°ÝÀ¸·Î äÅÃ.
Antimony Wafer  Á¦Á¶ °øÁ¤¿¡ »ç¿ëµÇ´Â ºÒ¼ø¹°·Î½á, N-Çü ºÒ¼ø¹°¿¡ ÇØ´çÇϸç,±âÈ£´Â SbÀÌ´Ù.
Anti Reflect
   Polycide ±¸Á¶¿¡¼­ siliconÀÇ ±¼ÀýÀ²ÀÌ 11.0ÀÌ»óÀ¸·Î photo °øÁ¤¿¡¼­ pattern Çü¼º¿¡ ¹®Á¦°¡ ¹ß»ý
    ÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.µû¶ó¼­ ±¼ÀýÀ²ÀÌ ³·Àº SiO2³ª TiN µîÀ» silicideÃþÀ§¿¡ Çü¼º½ÃÄÑ pattern Çü¼ºÀÇ¿ëÀÌÇÔÀ» ²ÒÇÏ´Â
   TiN¸¦ ARC¶ó ÇÑ´Ù.
Antistatic  Á¤Àü±â ¹æÁö.
AOQ(Average Outgoing Quality)°è¼ö ¼±º°Çü °Ë»ç¿¡¼­ ´Ù¼öÀÇ lot°¡ ¼±º°Çü °Ë»ç¸¦ ¹Þ¾ÒÀ» ¶§°Ë»ç¸¦ Åë°úÇÑ ´Ù¼öÀÇ
    lotÀÇ Æò±ÕǰÁúÀ» º¸ÁõÇÔÀ» ¸»ÇÑ´Ù. Æò±Õ ǰÁúº¸Áõ(AOQ)=lotºÒ·®À²¡¿lot°¡ ÇÕ°ÝÀ¸·Î µÉ ºñÀ²
AOQL(Average Outgoing Quality Limit)  Æò±Õ Ãâ°Ë ǰÁú ÇѰè : AOQ °î¼±ÀÇ ÃÖ´ëÄ¡.
Application Test ½ÇÀå(ãùíû)Å×½ºÆ®¶ó°íµµ ºÒ¸®¿ì¸ç, ¹ÝµµÃ¼ ½ÅÁ¦Ç°ÀÇ »ý»ê½Ã ½ÇÁ¦ÀûÀ¸·Î ÇØ´çÁ¦Ç°ÀÌ »ç¿ëµÇ´Â
    ½Ã½ºÅÛ¿¡ ÀåÂøÈÄ ÀÌ Å×½ºÆ®ÇÏ´Â Á¶°Ç°ú µ¿ÀÏÇÏ°Ô ½Ç½ÃÇÏ´Â Å×½ºÆ®¸¦ ÀÏÄÃÀ½.
APCVD Atmospheric Dressure CVD(Chemical Vapor Deposition)
    È­ÇÐÀû ±â»óµµ±Ý ¶Ç´Â È­ÇÐÁõÂøÀ̶ó°í ÇÏ´Â °í¼øµµ °íǰÁúÀÇ ¹Ú¸·À» Çü¼ºÇÏ´Â ±â¼ú·Î Àú¿Â¿¡¼­ ±âÈ­ÇÑ Èֹ߼ºÀÇ
    ±Ý¼Ó¿°(Vapor)°ú °í¿Â¿¡ °¡¿­µÈ µµ±ÝÇÒ °íü¿ÍÀÇ Á¢ÃËÀ¸·Î °í¿ÂºÐÇØ,°í¿Â¹ÝÀÀÇÏ°í ¿©±â¿¡ ±¤¿¡³ÊÁö¸¦ Á¶»ç½ÃÄÑ
    Àú¿Â¿¡¼­ ¹°Ã¼ Ç¥¸é¿¡ ±Ý¼Ó ¶Ç´Â±Ý¼Ó È­ÇÕ¹°ÃþÀ» ¼®Ãâ½ÃŰ´Â ¹æ¹ýÀ¸·Î È­ÇÐ GasµéÀÇ È­ÇÐÀû ¹ÝÀÀ ¹æ¹ýÀ» ÀÌ¿ë
    ÇÏ¿© ¸·À» ÁõÂø½Ã۴µ¥ À̶§ Chamber »óŰ¡ ´ë±â¾Ð Á¶°Ç¿¡¼­ ÀÌ·ç¾îÁö´Â ÁõÂø.
APD(Avlanche Photo Diode) ½Ç¸®ÄÜÀÇ PN Á¢ÇÕ¿¡ ºê·¹ÀÌÅ© ´Ù¿î Àü¾Ð¿¡ °¡±î¿î °íÀü¾ÐÀ» °¡ÇÏ¿© ÀüÀÚ»çÅÂ
    È¿°ú¿¡ÀÇÇÑ Àü·ù Áõ¹èÀÇ ÀÛ¿ëÀ» °®°ÔÇÑ Photo Diode´Ù.
APPC(Advanced Program-to-Program Communication)
   µ¿ÀϱâÁ¾ ȤÀº À̱âÁ¾¿¡¼­ÀÇ ÇÁ·Î¼¼¼­µéÀÌ ¼­·Î Åë½ÅÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô ÇÏ´Â IBM»çÀÇ
   SNA(System Network Architecture)ÀÇ ÀϺκÐ.
API (Application Programming Interfaces)
    »ç¿ëÀÚ°¡ ½Ã½ºÅÛÀ» accessÇϱâ À§ÇØ ÀÀ¿ëÇÁ·Î±×·¥À» ¾µ ¼ö ÀÖµµ·Ï Á¦°øÇÏ´Â routines(s/w tools)À» ¸»ÇÑ´Ù.
AQL(Acceptable Quality Level)°è¼ö Á¶Á¤Çü Sampling °Ë»ç·Î ÇÕ°ÝÀ¸·Î ÇÒ ÃÖÀúÇÑÀÇ lotÀÇ Ç°ÁúÀ» ¸»Çϸç,
   ÀÌ ¼öÁغ¸´Ù ÁÁÀº ǰÁúÀÇ lot¸¦ Á¦ÃâÇÏ´Â ÇѰÅÀÇ ´Ù ÇհݽÃŰ´Â °ÍÀ» ÆÇ¸ÅÀÚ Ãø¿¡¼­ º¸ÁõÇÏ´Â °ÍÀÌ´Ù.
ARC ÆÄÀÏ  SEA(System Enhancement Associates)¿¡ ÀÇÇØ ¹ßÇ¥µÈ ARC ÆÄÀÏÀ» ¾ÐÃàÇÁ·Î±×·¥¿¡ ÀÇÇØ »ç¿ëµÈ ÆÄÀÏÇüÅÂ.
Arc Chamber  IonÀ» »ý¼º½ÃŰ´Â »ç°¢ÇüÀ¸·Î µÈ »óÀÚ.
Arc Current  Plasma»óÅ¿¡¼­ BeamÀü·ù¸¦ »ý¼º½Ã۱â À§ÇÏ¿© Çʶó¸àÆ®¿Í Arc Chamber ¾ç´Ü¿¡ °¡ÇØÁÖ´Â Àü·ù.
Ar  ARGONÀÇ ¿ø¼Ò±âÈ£ ¹× ±× Gas.
Area Marketing   Àü±¹À» µ¿ÀÏÇÑ ¼ºÁúÀÇ ÇϳªÀÇ ½ÃÀåÀ¸·Î º¸°í Àü°³ÇÏ´Â Marketing ¼ö¹ý¿¡ ´ëÀÀÇÏ´Â °³³äÀ¸·Î
    °¢ Áö¿ªÀÇ Æ¯¼ºÀ» ÆÄ¾ÇÇÏ¿© ±×¿¡ ¾Ë¸Â´Â Ä¡¹ÐÇÑ ¼ö¹ýÀ» ÅëÆ²¾î ÀÏÄ´ ¸».
Arithmetic Mean  »ê¼úÆò±Õ.(Arithmetic Average)
ARL(Acceptable Reliability Level)  Çã¿ë ½Å·Ú¼º ¼öÁØ ¶Ç´Â ÇÕ°Ý ½Å·Ú¼º ¼öÁØ.
Array
   ±â´É»óÀ¸·Î °¢°¢ µ¶¸³µÈ ¿©·¯°³ÀÇ È¸·Î¶Ç´Â µð¹ÙÀ̽º¸¦ ÇÑÀåÀÇ ±âÆÇÀ§¿¡ ±ÔÄ¢ÀûÀ¸·Î ¹è¿­ÇÏ¿© »óÈ£ ¹è¼±ÇÑ
    ÁýÀûȸ·Î±º ¶Ç´Â Device±ºÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
Array Logic 
   FILP-FLOP,NAND,NOR,Diode µîÀÇ Logic CircuitÀ» Array ¸ð¾çÀ¸·Î ¹è¿­ÇÑ °ÍÀ¸·Î ¹Ýº¹ ±¸Á¶¿¡ÀÇÇØ¼­
    ¼Ò¸ÁÀÇ ³í¸®(ÇÔ¼ö)¸¦ ½ÇÇöÇÏ´Â Device´Ù.
Artwork Master  ÀÛ¾÷¿ë ê¹FilmÀ» Á¦ÀÛÇϴµ¥ ¾²ÀÌ¸ç ¹èÀ²ÀÌ Á¤È®ÇÏ°Ô 1:1ÀΠȸ·ÎÀÇ ÇüÅÂ.
As  ºñ¼ÒÀÇ ¿ø¼Ò±âÈ£(Arsenic).
ASAC(Asian Standards Advisory Committee)  ¾Æ½Ã¾Æ Ç¥ÁØÈ­ ÀÚ¹®À§¿øÈ¸.
Ashing  °Ç½Ä½Ä°¢, ½À½Ä½Ä°¢À̳ª ÀÌ¿ÂÁÖÀÔ µî¿¡ ÀÇÇØ ±»¾îÁø °¨±¤¾×ÀÇ °Ç½Ä Á¦°Å(Dry Strip) ¶Ç´Â ½À½ÄÁ¦°ÅÀÛ¾÷.
ASIC(Application Specific IC)ƯÁ¤¿ëµµ ÁýÀûȸ·Î(÷åïÒéÄÔ² ó¢îÝüÞÖØ)ÀüÀÚ Á¦Ç°ÀÇ  °æ¹Ú´Ü¼Ò(ÌîÚÝÓ­á³)Ãß¼¼¿¡
    µû¶ó ¹ü¿ë¼ºÀÌ ³ôÀº Ç¥ÁØ IC¿Í´Â ´Þ¸® °í°´À̳ª »ç¿ëÀÚ°¡ ¿ä±¸Çϴ ƯÁ¤ÇÑ ±â´ÉÀ» °®µµ·Ï ¼³°è,Á¦ÀÛµÈ IC.
Aspect Ratio
   Step Coverage³ª Æòźȭ µî¿¡ ¿¬°üµÈ ¿ë¾î·Î½á ÀÌ¹Ì ÔµÐÝµÈ È¦ÀÇ Á÷°æ¿¡ ´ëÇÑ È¦ÀÇ ±æÀÌ¿ÍÀÇ Ýï×Ë.
Assembly  ½ÇÀåǰ ºÎǰµéÀ̳ª º¸Á¶½ÇÀåǰµéÀÌ Á¶ÇÕÀ» ÀÌ·ç¾î °áÇÕµÇ ÀÖ´Â °Í.
ASRP(Automatic Spreading Resistance Probe)
    Silicon WaferÀÇ ÁöÁ¡º° ºÒ¼ø¹° ³óµµºÐÆ÷¸¦ ¿¬¼ÓÀûÀ¸·Î ÃøÁ¤ÇÏ´Â ¼³ºñ.
Assignable Cause  º¯µ¿ÀÇ ºÐÆ÷¸¦ ±¸¼ºÇÏ´Â ¿ä¼Òµé Áß ¿øÀÎÀ» ±Ô¸íÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °Í.
ASTM(American Society Testing & Materials)   ¹Ì±¹ Àç·á½ÃÇè ÇÐȸ
ATE(Automatic Test Equipment)   ÀüÀÚ ¼ÒÀÚµéÀ» ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© TestÇÒ ¼ö ÀÖ´Â Àåºñ¸¦ ÀÏÄÃÀ½.
Attributes, method of °è¼öÄ¡(¼Ó¼º)
    units°¡ ¾ó¸¶³ª ¸¹Àº ǰÁú¼Ó¼ºÀ» °¡Áö°í Àִ°¡ (¶Ç´Â °¡Áö°í ÀÖÁö ¾ÊÀº°¡)units¼Ó¿¡ ¾ó¸¶³ª ¸¹Àº ÞÀßÚÀÌ ¹ß»ý
    Çϴ°¡ ±×¸®°í °¢ unit¿¡ ¾î¶² Ư¼ºÀÌ Á¸ÀçÇϴ°¡ µîÀÇ °è¼öÄ¡ (attribute)¿¡ ÀÇÇÑ Ç°ÁúÆò°¡.
¡àAu-Bond(Gold ball Bond)  ±Ý¼±À» »ç¿ëÇÑ Bonding ¹æ¹ý.
Audio RAM Á¤»óÀûÀÎ DRAM¿¡ ºñÇÏ¿© ºÒ·® BIT ¼ö°¡ ±ÔÁ¤°¹¼ö À̳»·Î Á¸ÀçÇÏ´Â Á¦Ç°À» ³ªÅ¸³»´Â °ÍÀ¸·Î
   Audio RAMÀ» Ȱ¿ëÇÏ´Â ½Ã½ºÅÛÀº ÀϹÝÀûÀ¸·Î ÀÚµ¿ÀÀ´ä ÀüÈ­±â ¹× HDD ´ë¿ëÀ¸·Î »ç¿ëµÇ°í ÀÖ´Ù.
Auto-Doping
   ºÒ¼ø¹°ÀÌ ³ô°Ô ÁÖÀԵǾî ÀÖ´Â »óÅ¿¡¼­ ´Ù¸¥ °øÁ¤À» ÁøÇàÇÒ ¶§ ÁøÇà°øÁ¤ÀÇ ¸ñÀû°ú ÇÔ²² ¶Ç´Â º°°³·Î
    ºÒ¼ø¹°ÀÌ ´Ù¸¥ Áö¿ªÀ¸·Î È®»êµÇ´Â °ÍÀ» ¸»ÇÔ.
Auto Loader ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶(FAB, TEST, ASS'Y) 
    ¾î¶² °øÁ¤¿¡¼­µç °øÁ¤ÀÌ ÁøÇàµÉ ¶§ ½ÃÀ۵Ǵ °ÍÀÌ ÀÚµ¿ÀûÀ¸·Î ÁøÇàµÇ´Â °ÍÀ» ¸»ÇÔ.
Automatic Loading System  Carrier¿¡ ´ã±ä Wafer¸¦ ÇÑ °³¾¿ ÁÖÀÔÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °÷±îÁö ¿î¹ÝÇÏ´Â ÀåÄ¡.
Auto Transfer  Wafer¸¦ Boat¿¡¼­ ±â°è·Î Loading ¶Ç´Â UnloadingÇÏ´Â ±â±¸ ·Î½á Á¦Á¶°øÁ¤¿¡¼­ »ç¿ëÇÑ´Ù.
Auto Transport System(ÀÚµ¿¹Ý¼Û ½Ã½ºÅÛ)
    ÀÚµ¿È­ °øÀå¿¡¼­ ¹°·® ¹Ý¼ÛÀ» Computer SystemÀÇ Á¦¾îÇÏ¿¡ ÀÚµ¿À¸·Î ¸ñÀûÁö±îÁö ÇàÇÏ´Â ÃѰýÀûÀÎ System.
Av Voltage Gain  Àü¾Ð ÁõÆøµµ.
AV TFT-LCD(AUDIO-VIDEO,TFT-LCD) ¿Àµð¿À,ºñµð¿À¿ë µð½ºÇ÷¹ÀÌ¿¡ »ç¿ëµÇ´Â ÆÇ³Ú·Î °íÈ­ÁúÀÇ TFT-LCD Ä®¶óÈ­°¡
    ¿ä±¸µÇ¸ç 1. 1ÀÎÄ¡ ÀÌÇÏÀÇ È­¼Ò¼ö 12¸¸ Á¤µµÀÇ Ä·ÄÚ´õ¿ë µð½ºÇ÷¹ÀÌ ÆÇ³ÚÀÌ ´ëÇ¥ÀûÀÌ´Ù.
Avalanche Breakdown
   Pin Diode¿¡ ¿ªÀü¾Ð(reverse bias)¸¦ Å©°Ô °¡ÇØÁÖ¸é breakdownÀÌ µÇ¸é¼­ ±Þ°ÝÈ÷ Å«Àü·ù°¡
    È帣°Ô µÇ´Â°ÍÀ¸·Î, Zener breakdown mechanism°ú ´Þ¸® Àú³óµµ·Î dopingµÈ Junction¿¡¼­ transition regionÀÇ
    °­ÇÑ Field¿¡ ÀÇÇØ electronÀÌ °áÁ¤°ÝÂ÷¿Í Ãæµ¹ÇÏ¿© electron-hole  pairs¸¦  »ý¼ºÇÏ´Â impact ionization 
    mechanismÀ» ¹Ýº¹Çϸ鼭 carrior¼ö°¡  ±Þ°ÝÈ÷ Áõ°¡µÇ¾î Breakdown¿¡ À̸£´Â Çö»óÀ» ¸»ÇÔ
Avalanche Injection Diode  °íÀúÇ× °Ô¸£¸¶´½ Æç·¿ÀÇ ÇÑÂʸéÀ» Àε㳳À¸·Î ÇÕ±ÝÇÏ¿© P+¿µ¿ªÀ» ¸¸µé°í ´Ù¸¥ÂÊ
    ¸é¿¡ ±Ý ¾ÈƼ¸ó ¼±À» º»µåÇÏ¿© N+¿µ¿ªÀ» Çü¼ºÇÑ ±¸Á¶ÀÇ Diode´Ù.
Avalanche Transistor 
  ÀüÀÚ»çÅ TRÀ̶ó°íµµ Çϸç TR¿¡ ³·Àº Àü¾ÐÀ» °¡ÇßÀ» ¶§¿¡´Â OFF »óÅÂÀÌ¸ç ³ôÀº Àü¾ÐÀ» °¡ÇßÀ» ¶§¿¡´Â Avalanche
  BreakdownÀ» ÀÏÀ¸ÄÑ ÃæºÐÈ÷ ³·Àº ÀúÇ×ÀÇ ON »óÅ·ΠµÇ´Â ½ºÀ§Äª¿ëÀÇ ºÎ¼º ÀúÇ×¼ÒÀÚÀÌ´Ù.
AV ½Ã´ë (Audio-Video, ¿Àµð¿À-ºñµð¿À ½Ã´ë)  
    À½¼º(AUDIO)°ú ¿µ»ó(VIDEO)À» ÇÔ²² Áñ±â°íÀÚ ÇÏ´Â ÃÖ±ÙÀÇ °æÇâÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
Average Outgoing Quality Level(AOQL) Æò±ÕÃâ°ËǰÁúÇѰè.
    ÁÖ¾îÁø Sampling °Ë»ç¿¡ À־, ÀÔ°í°Ë»çǰÁú¿¡ ´ëÇØ Çã¿ë °¡´ÉÇÑ ÃÖ´ë Æò±ÕÃâÇÏǰÁú(AOQ)¼öÁØÀ» ¸»ÇÑ´Ù.
AWD(Actual Working Day)  ½ÇÀÛ¾÷ Àϼö.
AWH(Available Workng Hour)  ÀÛ¾÷°¡´É½Ã°£(°¡¿ë½Ã°£)
A.W.W(Acid Waste Water)  »êÆó¼ö·Î¼­ ¾àǰÁß »êÀ» »ç¿ëÇÏ´Â Àåºñ¿¡¼­ ¹èÃ⠵Ǵ Æó¼ö¸¦ ¸»ÇÔ.
Axial Fan ¹æ½Ä  ´ëÇü Ãà·ù FanÀ» »ç¿ëÇÏ¿© Clean Room¿¡ °ø±â¸¦ °ø±Þ, ¼øÈ¯½ÃŰ´Â ¹æ½Ä.

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡


¡¡

¡¡