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W/A  Working Aisle.
   ÀÛ¾÷ÀÚÀÇ ÀÛ¾÷°ø°£, À̵¿·Î ȤÀº ¿þÀÌÆÛÀÇ ¿î¹Ý·Î°¡ µÊ.1M-DRAMÀÇ °æ¿ì ¿ä±¸ ûÁ¤µµ´Â CLASS 10.
Wafer  
    ±Ô¼Ò¹ÚÆÇÀ¸·Î ±Ô¼Ò(Si)¸¦ °í¼øµµ·Î Á¤Á¦ÇÏ¿© °áÁ¤½ÃŲÈÄ ¾ã°Ô Àß¶ó³½ °ÍÀ¸·Î ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ¸¦ ¸¸µå´Âµ¥ »ç¿ëÇÔ.
Wafer Carrier  Wafer¸¦ º¸°ü,¿î¹Ý ¶Ç´Â °øÁ¤À» ÁøÇàÇϱâ À§ÇÑ µµ±¸.
Wafer ID  RUN ¹× Wafer ½Äº°À» À§ÇØ °¢ Wafer¿¡ ´ëÇÑ Ç¥½Ã.
Wafer Sort  
    wafer level¿¡¼­ÀÇ GO/NO-GO test¶ó°í ¸»ÇÒ ¼ö ÀÖÀ¸¸ç, ÀÌ test ½Ã wafer prober¿Í prober card°¡  ÀÖ¾î¾ß 
    test°¡ °¡´ÉÇÏ´Ù. À̰ÍÀÇ ¸ñÀûÀº Die  assemblyîñ¿¡ °¢ DieÀÇ GOOD/NO-GOODÀ» ÆÇÁ¤ÇÏ¿© 
    goodÀ» assemblyÇϴµ¥ ¸ñÀûÀÌ ÀÖ´Ù.
Wafer Storage Box(Wafer º¸°ü »óÀÚ)  Wafer¸¦ carrier¿¡ ´ã¾Æ º¸°üÇϰųª ¿Å±æ ¶§ »ç¿ëÇÏ´Â BOX.
Wafer Thickness  Wafer µÎ²².
Wait(´ë±â»óÅÂ)  
    Áß¾Óó¸®ÀåÄ¡°¡ ´ë±â ¶Ç´Â Á¤Áö»óÅ¿¡ ÀÖ´Ù´Â °ÍÀ» ¾Ë¸®´Â ½ÅÈ£.¼Óµµ°¡ ºü¸¥  CPU ÁÖº¯ I/O ÀåÄ¡³ª,  
    Access TimeÀÌ ´ÊÀº Memory¿¡¼­ Data¸¦ ReadÇÒ ¶§ ÇÊ¿äÇϸç,Ready ½ÅÈ£³ª IOCHRDY ½ÅÈ£¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© 
    Wait¸¦ ÁÖ¾î Cycle¸¦ ±æ°Ô ÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.
Wall  
    2°³ÀÇ ÃàÅðÇÑ Áú¼­»óÀÌ °øÁ¸Çϰí ÀÖÀ» ¶§ ±× °æ°è¸éÀ» °­ÀÚ¼ºÃ¼ÀÇ ¿ë¾î¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ÀÚº® magnetic domain wall 
    ¶Ç´Â Bloch wallÀÌ¶ó  ºÎ¸£¸ç,ÁÙ¿©¼­ wallÀ̶ó ºÎ¸¥´Ù.
WAN(Wide Area Network)  ¿ø°Å¸® Åë½Å.
Watchdog Timer(WDT)  
    Watchdog timer´Â MicomÀÌ Á¤»óÀûÀ¸·Î µ¿ÀÛÇÏ´ÂÁöÀÇ ¿©ºÎ¸¦ checkÇϰí ÀÌ»óµ¿ÀÛÀ» °ËÃâÇÑ °æ¿ì¿¡´Â
    ÀÌ»óÀÇ ¹ß»ýÀ» CPU¿¡ ¾Ë·ÁÁÖ°í Á÷Á¢ CPU¸¦ reset»óÅ·Π°¡°ÔÇϴ ȸ·Î ½Ã½ºÅÛÀÌ ÇÁ·Î±×·¥ÀÇ Âø¿À·Î
    ¹«Á¦ÇÑÀÇ ·ç¿ìÇÁ¿¡ µé¾î °¡µçÁö ¶Ç´Â ±â°è°íÀåÀ¸·Î ÈÞÁö»óŸ¦ ¹æÁöÇϱâ À§ÇØ ÇÁ·Î±×·¥¿¡ ÀÇÇØ ¼³Á¤µÈ 
    ŸÀ̸ӷμ­ ÁÖ¾îÁø ÀÏÁ¤½Ã°£ÀÌ °æ°úÇÏ¸é °æº¸À½À» ¹ß»ýÇÑ´Ù.
Warning Limits  
    °æ°íÇѰè. °ü¸®ÇѰè ÀÌÅ»ÀÇ °¡´É¼ºÀ» ÁÖÀÇÇØ¾ß ÇÔÀ» ³ªÅ¸³»´Â ÇѰèÀ̸ç Á¶Ä¡°¡ ¹Ýµå½Ã ÇÊ¿äÇÑ °ÍÀº ¾Æ´Ï´Ù. 
    °æ°íÇѰè´Â º¸Åë action  limitÀ¸·Î »ç¿ëµÇ´Â Control limitÀÇ ¾ÈÂÊ¿¡ À§Ä¡ÇÑ´Ù.
Wave Form  
    Á¤È®ÇÏ°Ô Wafer ³»¿¡ Ion BeamÀÌ ¼±ÅõǾî Àִ°¡¸¦ È®ÀÎÇϱâ À§ÇÏ¿© Monitor»óÀÇ ÁÂÇ¥ÃàÀÌ ³ªÅ¸³»³ª´Â ¹æ¹ý.
Wave Soldering  ºÎǰ»ðÀÔ ÀÌÈÄ ¼Ö´õ¸µÇÏ´Â ÀϹÝÀûÀÎ ¹æ¹ý.
WB(Wire Bond)  ±Ý¼± ¿¬°á °øÁ¤.
WECC(West Europe Calibration Cooperation)  ¼­À¯·´ ÃøÁ¤±âÁØ Á¶Á÷.
Wedge Bonding  ¿­¾ÐÂø¿¡ ÀÇÇÑ º»µù ¹æ½ÄÀÇ Çϳª.
WELAC(West Europe Laboratory Accrediation and Certification)  ¼­À¯·´ ½ÃÇè¼Ò ÀÎÁ¤Á¶Á÷.
Well  
    CMOS Technology¿¡¼­,N-Channel Transistor¿Í P-Channel Transistor¸¦ Çü¼ºÇ챉  À§ÇÏ¿©,Si-Substrate¿¡ 
    ºÒ¼ø¹°À» ÁÖÀÔÇÏ¿© ¸¸µç N ¹× P-Channel TransistorÀÇ substrate.
Wet Etch  ½À½Ä½Ä°¢. ¿ë¾×¼º È­ÇÐ ¹°ÁúÀ» »ç¿ëÇÏ´Â ½Ä°¢ ¹æ¹ý.
Wet oxidation  H2+O2 ¹ÝÀÀÀ¸·Î »êÈ­¸·À» Çü¼ºÇÏ´Â »êÈ­¹æ¹ý.
Wet Process  »çÁø ½Ä°¢±â¼ú¿¡ À־ ¿¡Äª¾×¿¡ ÀÇÇÑ ¹ÝµµÃ¼ Ç¥¸éÀÇ ¿¡ÄªÀ» Wet Process¶ó ÇÑ´Ù.
Wet Sink  Wafer¸¦ ¼¼Á¤Çϰųª ½À½Ä ½Ä°¢ÇÒ ¶§ ¾²ÀÌ´Â Àåºñ.
Wetting(¿þÆÃ)  ÈÞ¡À̳ª ÇÖ¼Ö´õ °øÁ¤¿¡¼­ ¼Ö´õ°¡ ³ì´Â °úÁ¤ÀÌ ¹Ìó¸®µÈ ºÎºÐ.
White Knight  
    AÞ並 ¸Å¼öÇÏ·Á°í ÀÖ´Â BÞä¿¡ ´ëÇÏ¿© AÞä°¡ Àû´çÇÑ ¹æ¾î ¼ö´ÜÀÌ ¾øÀ» ¶§ ¿ìÈ£ÀûÀÎ Á¦ 3ÀÚÀÎ CÞ並 ¸Å¼öÁø¿¡
    °¡¼¼½ÃÄÑ º´ÇÕ BidÀÇ »óȲÀ» Àü°³Çϰí ÃÖÁ¾ÀûÀ¸·Î CÞä¿¡ ¸Å¼öµÇµµ·Ï ÇÏ´Â °æ¿ì,CÞ並 ¹é¸¶ÀÇ ±â»ç·Î ÇÔ.
WHOPL(Wet High Temperature Operating life Test)
    "°í¿Â °í½À µ¿ÀÛ ¼ö¸í½ÃÇè" À¸·Î¼­,85¡É/85%(½Àµµ)ÀÇ OVEN ¼Ó¿¡¼­ ÁøÇàÇÏ´Â ¼ö¸í½ÃÇè.
WHTS(Wet High Tempertue Storage)
    "°í¿Â °í½À  º¸°ü½ÃÇè"À¸·Î¼­,85¡É ¹× ½Àµµ 85%ÀÇ oven¼Ó¿¡¼­ Device¸¦ ÀúÀåÇϴ ȯ°æ½ÃÇè.
WI(Wire Inspection)  Bond °Ë»ç °øÁ¤.
Wide Bit  
    8 Bit ÀÌ»óÀÇ I/O·Î ±¸¼ºµÇ¾î Byte ȤÀº Word ´ÜÀ§·Î Data¸¦ ÀÔ·Ãâ·ÂÇÒ¼ö ÀÖµµ·Ï ÇÑ DeviceÀÇ ÀÔ·Ãâ·Â ±¸Á¶.
William's Approximation ÇÕ±ÝÀÇ Áú¼­,¹«Áú¼­ ÀüÀ̸¦ Åë°è ¿ªÇÐÀûÀ¸·Î ÇØ¼®Çϱâ À§ÇØ ÀÌ¿ëµÈ ±Ù»ç¹ý.
WIP(Work In Process)  °øÁ¤ºÎºÐǰ(Àç°øÁ¦Á¶).
WIPO(World Intellectural Property Organization)
    ¼¼°è ÁöÀû¼ÒÀ¯±Ç±â±¸ ÀúÀÛ±ÇÀ» ´Ù·ç´Â º£¸¥Á¶¾à°ú °ø¾÷¼ÒÀ¯±ÇÀ» ´Ù·ç´Â ÆÄ¸®Á¶¾àÀÇ °ü¸®¿Í »ç¹«±â±¸»óÀÇ 
    ¹®Á¦¸¦ ÅëÀÏÀûÀ¸·Î ó¸®Çϱâ À§ÇÏ¿© ¼¼°è ÁöÀû¼ÒÀ¯±Ç±â±¸ ¼³¸³Á¶¾à¿¡ ±Ù°ÅÇÏ¿© ¼³¸³µÈ ±â±¸ÀÌ´Ù.
Wire Bonder
    TRÀ̳ª IC¸¦ Á¦Á¶ÇÒ ¶§ ¿ÜºÎ·Î ²ø¾î³»´Â ¸®À̵å¿Í Ĩ »çÀÌ¿¡´Â Åë»ó ¿­¾ÐÂøÀ̳ª ÃÊÀ½ÆÄ¿¡ ÀÇÇÑ Wire Bonding
    À¸·Î Á¢¼ÓÇϴµ¥ ÀÌ ¿ÍÀÌ¾î º»µùÀ» ÇÏ´Â ÀåÄ¡¸¦ Wire Bonder¶ó°í ÇÑ´Ù.
Wireless Bonding  ¿ÍÀ̾ ¾ø¾Ö°Å³ª ´Ù¸¥ ±¸Á¶¸¦ ¹Ù²Ù·Á°í ÇÏ´Â °Í.
Wire Spool  ±Ý¼±ÀÌ ´ã°ÜÀÖ´Â Åë.
Word
    Computer¿¡¼­ »ç¿ëµÇ´Â ±âº» Á¤º¸ÀÇ ´ÜÀ§·Î¼­,1Byte(´ë°³ 8bit) ȤÀº ¸î °³ÀÇ Byte°¡ ¸ð¿©(1Byte¡­2Byte) 
    Word¸¦ ±¸¼ºÇϰí ÀÖÀ½.
Work Function(ÀÏÇÔ¼ö)
    ¾î¶² ¹°Áú¿¡¼­ ÀüÀÚ°¡  Æ¢¾î³ª°¡±â À§Çؼ­ ±× Ç¥¸éÀ» ¶Ù¾î³ÑÁö ¾ÊÀ¸¸é ¾ÈµÇ´Â ÀüÀ§À庮ÀÇ ³ôÀ̸¦ ³ªÅ¸³½ °Í.
Work Holder
    Lead FrameÀ» Lodader MagazineÀ¸·ÎºÎÅÍ ¿­ÀüÆÇÀ¸·Î À̼۽ÃÄÑ Die Á¢ÂøÇÑ ´ÙÀ½ Unloading MegazineÀ¸·Î
    ÀÌ¼Û »ðÀÔÇÏ´Â ÀåÄ¡.
Work Sheet  ÀÛ¾÷ÀÇ ÁøÇà»óȲ, ³»¿ë  ½Ã°£ µî ±â·ÏÇÏ´Â ¾ç½ÄÀ¸·Î  RUN Sheet ¶Ç´Â RUN Card¶ó°íµµ ÇÔ.
Work Station  WF¸¦ ÀÛ¾÷ÇÏ´Â ÀÛ¾÷´ë.
Work Table(ÀÛ¾÷ŹÀÚ)  ¸ðµç Wafer HandlingÀº ÀÛ¾÷±¸¿ª³» Work Table¿¡¼­ ÇÑ´Ù.
Worm(1ȸ ±â·Ï ´ÙÁßÆÇµ¶ µð½ºÅ© : Write once Read  many)
 »ç¿ëÀÚ°¡ Á¤º¸¸¦ ÇÑ ¹ø¸¸ ±â·ÏÇÒ ¼ö ÀÖ°í ±× Á¤º¸¸¦ Áö¿ì°Å³ª º¯°æÇÒ ¼ö ¾ø°í ´Ù½Ã  ÀÐÀ» ¼ö ÀÖ´Ù.
Wrist Strap
    Á¢Áöȯ.Á¤Àü±â·ÎºÎÅÍ Á¦Ç°À» º¸È£Çϱâ À§Çؼ­ ÀÎü¿¡ ÀÖ´Â Á¤Àü±â¸¦ Ground·Î Èê·¯ º¸³»±â À§ÇØ ¼Õ¸ñ¿¡ 
    Âø¿ëÇÏ´Â Wire(¼Õ¸ñ´ë).
Write  
    EPROM ȤÀº EEPROM¿¡¼­, floating gate¿¡ ÁÖÀÔµÈ ÀüÀÚÀÇ Á¸Àç À¯¹« »óÅ¿¡ µû¶ó ÇØ´ç  bitÀÇ ÀúÀå  »óŸ¦
    ±¸ºÐÇÏ´Â »óÅÂ.EPROM¿¡¼­´Â floating gate·Î ÀüÀÚ°¡ ÁÖÀÔµÈ »óŸ¦ ¸»Çϸç EEPROM¿¡¼­´Â floating gate·Î
    ºÎÅÍ ÀüÀÚ°¡ dischargeµÈ »óŸ¦ ¸»ÇÑ´Ù.
WS(Work Stream)
    Á¦Ç°ÀÇ È帧À̳ª Á¦Ç°ÀÇ ÁøÇà»çÇ× µîÀÇ »çÇ×µéÀ» °ü¸®ÇØÁÖ±â À§ÇÑ Á¾ÇÕÀûÀÎ S/W·Î °øÀåÀÚµ¿È­¿¡ »ç¿ëµÈ´Ù.
WSI(Wafer Scale Integration)
    Wafer»óÀÇ ChipÀ» ÀÚ¸£°Å³ª °³º°·Î »ç¿ëÇÏÁö ¾Ê°í Wafer Àüü·Î¼­ »ç¿ëÇÏ¿© °íÁýÀûµµ¸¦ ÀÌ·ç·Á´Â ¹æ¹ý.
WSix(Tungsten Silicide)
    Tungsten°ú  Silicon°úÀÇ È­ÇÕ¹°·Î½á  Åë»óÀûÀ¸·Î polysilicon°ú ÀûÃþ±¸Á¶·Î »ç¿ëÇÑ´Ù. (Àϸí : Polycide)
WSTS(World Semiconductor Trade Statistics)
    ¼¼°è ¹ÝµµÃ¼ ¹«¿ª Åë°è.
    ¼¼°è ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶¾÷üµéÀÌ ¸ð¿© ½ÃÀå Àü¸Á ±Ô¸ð µîÀ» ¿¹ÃøÇÑ´Ù.
WW(Work Week)  ÀÛ¾÷.
X
XÀÌ·Ð/YÀÌ·Ð
    ¹Ì±¹ÀÇ °æ¿µÇÐÀÚ ¸Æ±×¸®°Å(D.Mcgregor)°¡ 1960³â´ë¿¡ ÁÖÀåÇÑ °ü¸®³ª Á¶Á÷¿¡ À־ÀÇ Àΰ£°ü ³»Áö Àΰ£¿¡ °üÇÑ
    °¡¼³(Ê£àã)ÀÇ À¯Çü.XÀÌ·ÐÀº ÀüÅëÀ̷п¡ µû¸¥ Àΰ£°üÀ¸·Î Àΰ£Àº º»·¡ ³ëµ¿À» ½È¾îÇÏ°í °æÁ¦ÀûÀÎ µ¿±â¿¡ ÀÇÇØ¼­¸¸
    ³ëµ¿À» ÇÏ¸ç ¸í·É Áö½Ã¹ÞÀº ÀϹۿ¡ ½ÇÇàÇÏÁö ¾Ê´Â´Ù´Â °Í.  
    ÀÌ °¡¼³¿¡ ÀÔ°¢ÇÏ¸é ¾ö°ÝÇÑ °¨µ¶, »ó¼¼ÇÑ ¸í·É, Áö½Ã, »óºÎ·ÎºÎÅÍÀÇ ÇϺο¡ ´ëÇÑ Áö¹è Áß½Ã,±ÝÀüÀÌ ÃâÇöÇÑ´Ù. 
    ÀÌ¿¡ ´ëÇØ YÀÌ·ÐÀº Àΰ£¿¡°Ô ³ëµ¿Àº ³îÀÌ¿Í ¸¶Âù°¡Áö·Î º»·¡ ¹Ù¶÷Á÷ÇÑ °ÍÀ̸ç Àΰ£Àº ÀÚ±âÀÇ ´É·ÂÀ» ¹ßÈÖ, 
    ³ëµ¿À» ÅëÇØ ÀÚ±â½ÇÇöÀ» ¹Ù¶ó°í ÀÖ´Ù°í º»´Ù. 
    Àΰ£Àº ¶ÇÇÑ Å¸Àο¡ÀÇÇØ °­Á¦µÇ´Â °ÍÀÌ ¾Æ´Ï¶ó ½º½º·Î ¼³Á¤ÇÑ ¸ñÇ¥¸¦ À§ÇØ ³ë·ÂÇÑ´Ù´Â °ÍÀÌ YÀÌ·ÐÀÌ´Ù. 
    ÀÌ °¡¼³¿¡ ÀÔ°¢Çϸé ÀÇ»ç°áÁ¤¿¡ Á¶Á÷±¸¼º¿øÀ» ±¤¹üÀ§ÇÏ°Ô Âü¿©½ÃŰ´Â Âü¿©Àû °ü¸®, ¸ñÇ¥°ü¸®°¡ ÇàÇØÁö¸ç, ¾ö°ÝÇÑ 
    °ü¸® ´ë½Å ºÎÇϰ¡ ¹®Á¦ÇذáÀÇ ÁÖü°¡  µÇ°í »ó»ç´Â ±× ¹®Á¦ ÇØ°áÀ» µµ¿ÍÁÖ´Â ½ÄÀÇ °ü¸®°¡ ÇàÇØÁö°Ô µÈ´Ù.
X-Terminal  
    È£½ºÆ® ÄÄÇ»ÅÍ·Î »ç¿ëµÇ¾î ¿À´ø ¸ÞÀÎÇÁ·¹ÀÓ°ú ¿£Áö´Ï¾î¸µ ¿öÅ©½ºÅ×À̼ÇÀÇ ±Þ¼ºÁ¤°ú LAN Ȱ¿ëÀÇ º¸ÆíÈ­ ¹× »ç¾÷Ç¥
    ÁØÀ» äÅÃµÈ X À©µµ¿ì·Î ÀÎÇØ ÃâÇöÇÑ Terminal.
X-Window  
    »ç¿ëÀÚ SystemÀÌ ³×Æ®¿öÅ©·Î ¹­¿© ´Ù¸¥ ½Ã½ºÅÛ°úÀÇ Á¢¼ÓÀÌ ºó¹øÇÏ¿© À©µµ¿ì¸¦ ¼­·Î °øÀ¯ÇÏ¸ç »ç¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ´Â 
    ´É·ÂÀÌ ¿ä±¸ µÇ¸ç  À̸¦ À§ÇÑ Ç¥ÁØÈ­¸¦ À§ÇÏ¿© °³¹ßµÈ ÀÏÁ¾ÀÇ Åë½Å Protocol.
Xylene or Way Coat  Çö»ó½ÃŰ´Â ¿ë¾×À¸·Î¼­ °¨±¤¾×(Resist)À» ³ìÀÌ´Â ¼ºÁúÀÌ ÀÖÀ½.
Y
Yield 
    1) ÃÖ´ëÀÇ °¡´ÉÇÑ »ý»êǰÁ¾¿¡ ´ëÇÑ ¾çǰºñÀ²
    2) »ý»ê/ÅõÀÔ¡¿ 100 = ¼öÀ²(%)
 Z
ZÀÌ·Ð(Theory Z)
    ¹Ì±¹ÀÇ Àª¸®¾ö ¿À¿ìÄ¡±³¼ö°¡ Á¦Ã¢ÇÑ °æ¿µÀÌ·Ð  ±×¿¡ ÀÇÇϸé ÀϺ»ÀÇ Á¶Á÷(JŸÀÔ)Àº Á¶Á÷°í¿ë ´À¸° Àλç°í°ú
    (ÍÅΤ)¿Í ½ÂÁø ºñÀü¹®ÀûÀÎ ½ÂÁøÄÚ½º,ºñ¸í½ÃÀû °ü¸®±â±¸,Áý´Ü¿¡ ÀÇÇÑ ÀÇ»ç°áÁ¤,Áý´ÜÃ¥ÀÓ,Àü¸éÀûÀÎ Àΰ£°ü°è¸¦
    Ư»öÀ¸·Î Çϰí ÀÖÀ¸¸ç ÀÌ¿¡ ´ëÇØ ÀüÅëÀûÀÎ ¹Ì±¹ÀÇ Á¶Á÷(AŸÀÔ)Àº ´Ü±â°í¿ë ºü¸¥ Àλç°í°ú¿Í ½ÂÁø Àü¹®È­µÈ 
    ½ÂÁøÄÚ½º,¸í½ÃÀû °ü¸®±â±¸,°³Àο¡ÀÇÇÑ ÀÇ»ç°áÁ¤,°³ÀΠåÀÓ, ºÎºÐÀûÀÎ Àΰ£°ü°è¸¦ Ư»öÀ¸·Î Çϰí ÀÖ´Ù°í ÇÑ´Ù.
    ¹Ì±¹¿¡¼­ ¼º°øÇϰí ÀÖ´Â ±â¾÷¿¡´Â ÀÌ 2°¡Áö ŸÀÔÀÇ ¿ì¿ùÇÑ Æ¯Â¡À» Á¶È­½ÃŲ ŸÀÔ(ZŸÀÔ)ÀÌ  ¸¹´Ù°í Çϴµ¥ 
    ÀÌ Æ¯»öÀ» ZÀÌ·ÐÀ̶ó°í ÇÑ´Ù. 
    ZÀÌ·ÐÀº »óÈ£½Å·Ú¿Í Çù·ÂÀ» ÁÖÃàÀ¸·Î ÇÑ Áý´ÜÀû °Ü¿µ(Collective enterprise)ÀÌ´Ù.
ZD¿îµ¿(¹«°áÁ¡ ¿îµ¿)(Zero Defects)
    ZD´Â 1960³â´ë¿¡ ¹Ì±¹±â¾÷ÀÌ ¹Ì»çÀÏÀÇ ³³±â´ÜÃàÀ» À§ÇØ'óÀ½ºÎÅÍ ¿ÏÀüÇÑ Á¦Ç°'À» ¸¸µéÀÚ´Â ¿îµ¿À» ¹úÀΰÍÀÌ 
    °è±â°¡ µÇ¾î ±Þ¼ÓÈ÷ º¸±ÞµÇ¾ú´Ù. ZDÀÇ  ÃÖ´ëÀÇ Æ¯»öÀº À̸§ ±×´ë·Î  °áÁ¡À» Á¦·Î·Î ÇÏÀÚ´Â °Í.
ZiP ÆÄÀÏ  PK WARE»çÀÇ PKZIP À¯Æ¿¸®Æ¼¿ë ÆÄÀÏÇüÅ·μ­ SEA»çÀÇ ARD¿Í À¯»çÇÑ ¾ÐÃà,º¸°ü ÇÁ·Î±×·¥ÀÌ´Ù.
Zener Breakdown
    PNÁ¢ÇÕ DiodeÀÇ ¿ª¹æÇâ Àü·ù´Â ¾î¶² ÀÏÁ¤ÇÑ °ªÀÌ»óÀÇ ¿ªÀü¾ÐÀ» °¡Çϸé Á¦³ÊÈ¿°ú¿¡ ÀÇÇØ °©ÀÚ±â Áõ°¡Çϸç 
    µ¿ÀÛÀúÇ×ÀÌ °ÅÀÇ 0À¸·ÎµÈ´Ù. 
    ÀÌ Çö»óÀ» Á¦³Ê Ç׺¹À̶ó Çϸç Ç׺¹ÀÌ ÀϾ´Â Àü¾ÐÀ» Á¦³Ê Àü¾ÐÀ̶ó°í ÇÑ´Ù.
Zener Çö»ó
    PNÁ¢ÇÕ¿¡¼­ DiodeÀÇ ¿ª¹æÇâ Àü¾ÐÀ» Å©°Ô Çϸé Àü¾ÐÀº ±ØÈ÷Á¶±Ý Áõ°¡Çϸç,¾î¶² Àü¾ÐÀÌ»ó Ä¿Áö¸é °©Àڱ⠿ª¹æÇâ
    Àü·ù°¡ Áõ°¡ÇÏ´Â Çö»óÀ» ¸»ÇÑ´Ù.¹ÝµµÃ¼¿¡ °­ÇÑ Àü°è°¡ °¡ÇØÁö¸é °áÁ¤¿øÀÚ¿¡ ¼Ó¹ÚµÇ¾î ÀÖ´Â °¡ÀüÀÚ°¡  Àü°èÀÇ 
    ÀÛ¿ëÀ¸·Î ¼Ó¹ÚÀ» ¹þ¾î³ª¼­ Æ¢¾î³ª°£´Ù. 
    Áï, °¡ÀüÀÚ ³»¿¡¼­ ±ÝÁö´ë¸¦ ¶Ù¾î ³Ñ¾î¼­ Àüµµ´ë·Î ²ø¾î ¿Ã·ÁÁø´Ù. 
    ÀÌ·¸°Ô ÇÏ¿© ÀüµµÀüÀÚ°¡ Áõ°¡Çϰí Àü·ù°¡ Áõ°¡ÇÑ´Ù.
ZERO OHM  
    RESISTOR SIMMÀÇ PD PIN ¿¬°á½Ã »ç¿ëµÇ´Â CHIP CONNECTOR·Î ÀϹÝÀûÀ¸·Î ÀúÇ× ¼ººÐÀÌ ¾ø±â 
    ¶§¹®¿¡ ZERO OHM RESISTOR¶ó ÇÑ´Ù.
ZIP(Zigzag In-line Package) 
    Package TypeÀÇ ÇÑÁ¾·ù·Î¼­ Package ÇÑÂÊÃø¸é¿¡¸¸ Lead°¡ ZigzagÇüÅ·ΠÀÖ¾î Device¸¦ ¿·¸éÀ¸·Î 
    ¼¼¿ö »ç¿ëÇÒ ¼ö ÀÖÀ¸¹Ç·Î °ø°£ Àý¾àÀÇ ÀÕÁ¡ÀÌ ÀÖ´Ù.
Zone AHU(Zone Air Handling  Unit) Áö¿ª°øÁ¶±â¶ó ĪÇϸç FAB¿¡¼­ ReturnµÈ
    
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